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ST4000-DLX
ST4000-DLX




- Standard Model
- Industrial Spec

 


제품 사양

 

크기 500 x 610 x 640 mm
무게 45Kg
장비방식 수동형(Manual Type)
측정 시편 ≤8", 12"
측정 형태 비접촉식
측정 원리 반사량에 근거하여 두께를 측정(Reflectometer)
특징 두께변화량을 실시간으로 측정, 시각별로 디스플레이 출력 가능
Windows 기반의 S/W로 Excel, Origin, MS-Word 등으로 측정 결과 저장 가능
다양한 n, k 모델 지원 (Cauchy, Cauchy Expotential, Sellmeier)
측정 속도 우수, 측정 방법 간편

 


기능 사양

 

Stage Size 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
Measurement Range 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
Spot size 40㎛/20㎛, 4㎛(option)
Measurement Speed 1~2 sec./site
Application Areas All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OELD
Option Programmable Auto Z Stage
Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST)
CCD Camera
Transmittance Module
Focus Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
Incident illumination 12v 100W Halogen Lamp